Microscope métallographique vertical de pointe
Le microscope métallographique inversé de pointe PMM-3LI (champ clair/obscur) a été mis au point pour répondre aux exigences des industries des semi-conducteurs, de la fabrication de plaquettes de silicium, des technologies de l’information et de la métallurgie. En tant que microscope métallographique de pointe destiné aux utilisateurs, il leur permet d’apprécier ses performances exceptionnelles et peut être largement utilisé pour l’analyse des lubrifiants, des semi-conducteurs, des écrans à panneau plat, des composants de circuits intégrés, des substrats de circuits, des matériaux, des pièces moulées, métalliques ou céramiques, ainsi que des moules de précision.